先进封装的关键路径
TGV 是玻璃基板实现垂直电互连的核心工艺,直接决定封装体的密度与信号完整性。

GLASS SUBSTRATE OPTOELECTRONIC INTEGRATION PLATFORM
国内首个第三方中立玻璃基公共研发中试平台
超快激光改性 + 选择性刻蚀,在玻璃基板上形成高精度垂直电互连

TGV 是玻璃基板实现垂直电互连的核心工艺,直接决定封装体的密度与信号完整性。
AI/HPC 推动载体从圆形晶圆走向大尺寸方形面板,玻璃成为关键候选材料。
成孔质量决定后续金属化与可靠性,孔径、锥度、侧壁粗糙度与崩边都需严格控制。
选定玻璃材质并确认来料状态。
为后续成孔与金属化提供洁净、亲水的表面。
主流路线为 LIDE:超快激光改性 + 选择性刻蚀。
改善孔内表面状态,为金属化做准备。
先由超快激光在玻璃内部形成改性区域,再利用选择性湿法刻蚀移除改性材料,形成高精度通孔。
以高纯固体碱为母料、去离子水为溶剂,经精确配比调配而成的碱性湿法刻蚀体系。
| 参数 | 控制对象 | 作用机制 |
|---|---|---|
| 浓度 | 刻蚀速率 | 调控溶液中碱基活性离子浓度,决定反应速率基础水平 |
| 温度 | 刻蚀速率与形貌 | 通过活化能提升反应速率,同时影响扩散与副反应倾向 |
| 时间 | 刻蚀深度与剖面 | 决定累计刻蚀量,控制通孔 / 沟槽深度及过刻程度 |
预计可做到
@ 肖特 BF33 材料
及以下尺寸
以上为平台加工能力指标,具体窗口需通过实验验证。
激光改质与刻蚀过程引入的应力集中,直接影响良率。
大面积阵列加工时位置精度需稳定控制。
刻蚀残留与碎屑影响后续金属化的孔内覆盖。
板级尺寸放大后,湿法处理的均匀性面临挑战。
高纯合成熔融石英,热膨胀极低、光学均匀性高
硼硅酸盐玻璃,CTE 接近硅,表面粗糙度低
晶圆级光学玻璃,硅匹配、高透过、高稳定性
硼硅酸盐电子玻璃,成熟可靠、高性价比
浮法硼硅酸盐玻璃,高透过率、尺寸稳定
检测进度、结果统计与整体质量状态,支持一键进入复核。
基于 AI 算法自动识别孔位并进行高精度圆拟合,微米级精度测量,支持多孔同时检测。
支持阵列孔的节距(Pitch)与圆度分析,输出尺寸与形位公差评估。
自动保存检测样张,支持历史样张查看与对比,便于质量追溯。
多光谱与共聚焦成像穿透玻璃介质,实现微米级通孔三维形貌重建与无损检测。
基于 CNN 自动提取特征并分类,识别孔壁粗糙度、微裂纹及内部空洞等细微缺陷。
结合热应力分布仿真与高频电性能测试,评估机械强度与信号完整性。
设备兼容 SECS/GEM 协议,对接工厂 MES 系统,实现检测数据实时传输与归档。
面向科研合作与中样品验证开放,欢迎联合研发。
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