极低的介电损耗
高频高速信号在玻璃中传输时损耗更小,适配高带宽互连需求。

GLASS SUBSTRATE OPTOELECTRONIC INTEGRATION PLATFORM
国内首个第三方中立玻璃基公共研发中试平台
OPTICAL × ELECTRONIC INNOVATION PLATFORM
目标成为世界级玻璃基光电融合平台
面向2030年 AI 时代,做全球算力的灯塔。
玻璃基是以玻璃替代传统硅或有机材料作为封装载体的技术路线,正在成为下一代 AI 算力的关键基础设施。
高频高速信号在玻璃中传输时损耗更小,适配高带宽互连需求。
CTE 可调、大面积不变形,支撑大尺寸面板级封装。
通过 TGV 通孔与金属化在玻璃内部构筑连续导电通路。
玻璃基能同时缓解密度、速度与散热三大难题,天然适配 2.5D/3D 异构集成。
封装载体正从圆形晶圆走向大尺寸方形面板,玻璃成为关键候选材料。

HBM、Chiplet、CPO 等前沿封装技术,均以玻璃基作为统一承载底座

激光直写、3D 打印增材、离子交换均可实现玻璃改性,激光直写效率与精度最优

以玻璃基为载体实现电互连与光波导的单片融合,突破电互连物理极限
以六大中心协同支撑技术研发与业务方向。
设计 · 测试 · 设备 · 制造 · 刻蚀 · 算力
从基板到光电融合,连接材料、制造、验证与应用的关键能力。
围绕外观形貌、光学性能、热学可靠性、薄膜结构与 TGV 自动化检测,精选各方向的代表性设备,为工艺开发与质量评价提供数据支撑。

宽波段透过率、反射率与吸收率测量
覆盖 175–3300 nm / 双光源 / 100mm 积分球
CTE、线膨胀与玻璃化转变温度表征
温区 -150℃ ~ 1600℃ / 位移分辨率 0.1 nm / 温度精度 ±0.1 K
薄膜厚度、光学常数与层状结构分析
样品台直径 200 mm / 膜厚重复性优于 0.005 nm
玻璃与工艺溶液折射率、Brix 及温度补偿测量
折射率范围 nD 1.3000–1.7100 / 精度 ±0.0002 nD / 约 0.3 mL 样品量透过率与折射率检测
TGV 通孔阵列外观、孔径、位置精度与锥度一致性检测
适用 510×515 mm 玻璃(可定制)/ 检测与量测一体输出上中下孔尺寸、通孔率及异常孔数据以应用定义需求。玻璃基材料正在 AI 算力、高带宽存储、光互连与高频通信等方向提供新的载体选择。


VISION / 2030